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锡球标样

该标样适用于SEM中等分辨率和像散的检测和调试。锡球的粒径范围为10nm-40nm。锡球标样特别适合半导体行业中SEM的分辨率校正。有碳基片和碳网格两种不同基底规格的锡球标样。
622  锡球粒径范围:10-40nm 
636  锡球粒径范围:3- 60nm
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