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碳基底金标样

 

碳金测试样本通常是将金原子镀膜在厚度约2mm的基质上,在中高度分辨率测试中,不同大小的金粒子会产生不同的间隙。金原子的高原子序数和高次级电子发射性能使其成为SEM和场发射扫描电镜(FESEM)分辨率校验的理想样本。
扫描电镜分辨率的测定采用标准,名义分辨间距和图像上灰线的数量相结合的方法。确保分辨率不会因对比最大可见边缘而导致不准确。高分辨的图像能通过一系列灰线水平显示出完美的细节而没有明显的噪音。
标称粒径范围:
1750:5nm-150nm
每个标样有一方形网格,中央有一较大的晶体,并在每一网格的边缘有很好的晶形。因此中或高分辨率测试可同时在一个样品上进行。
1751 :<3nm-50nm
特别适用于评价高分辨SEM图像质量,放大倍率至少在80000X才能清晰分辨出金颗粒。
1752:<2nm-30nm
用于超高分辨率测试,此标样有更小的金颗粒,放大倍率在100,000X以上。
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